ČSN EN 61726 ed. 2

Požadavky na moderní elektronická zařízení indikovaly poptávku po metodě pro zkoušení útlumu stínění mikrovlnných součástek v celém jejich kmitočtovém rozsahu. Pro nízké kmitočty a součástky pravidelného tvaru existují vhodné zkušební metody, které jsou popsány v příslušných specifikacích výrobků IEC (například IEC 62153 4-3). Pro vyšší kmitočty a pro součástky nepravidelného tvaru vyvstala nutnost nové zkušební metody, která je popsána v této normě. Tato norma popisuje měření útlumu stínění zkušební metodou dozvukové komory, která je vhodná pro prakticky jakýkoliv typ mikrovlnné součástky a nemá teoretickou horní kmitočtovou mez. Je omezena pouze ve vztahu k nízkým kmitočtům vzhledem k velikosti zkušebního zařízení, které je kmitočtově závislé, a představuje jen jednu z několika metod měření útlumu stínění. Pro účely této normy jsou příkladem mikrovlnných součástek vlnovody, posouvače fáze, diplexory/multiplexory, děli-če/slučovače výkonu atd.