PRICES include / exclude VAT
sklademDatum vydání: 1999-11
DIN 50455-2
Characterization of photoresists used in semiconductor technology - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 2: Bestimmung der Lichtempfindlichkeit von Positiv-Fotolacken
Format
Availability
Price and currency
Německy Hardcopy
In stock
39.41 €
Německy PDF
Immediate download
39.41 €
Anglicky Hardcopy
In stock
49.15 €
Anglicky PDF
Immediate download
49.15 €
| Status: | Norma |
| Datum vydání: | 1999-11 |
| Označení: | DIN 50455-2 |
| Název produktu: | Characterization of photoresists used in semiconductor technology - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists |
| Počet stran: | 5 |
DESCRIPTION