PRICES include / exclude VAT
sklademDatum vydání: 2025-10
DIN EN IEC 60749-23
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 47/2881/CDV:2024); German and English version prEN IEC 60749-23:2024
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 47/2881/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-23:2024
Format
Availability
Price and currency
Německy Hardcopy
In stock
81.96 €
Německy PDF
Immediate download
Printable
81.96 €
Anglicky Hardcopy
In stock
81.96 €
Anglicky PDF
Immediate download
Printable
81.96 €
| Status: | Návrh normy |
| Datum vydání: | 2025-10 |
| Označení: | DIN EN IEC 60749-23 |
| Název produktu: | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 47/2881/CDV:2024); German and English version prEN IEC 60749-23:2024 |
| Počet stran: | 18 |
DESCRIPTION