PRICES include / exclude VAT
sklademDatum vydání: 2024-08
DIN EN IEC 60749-34-1
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (IEC 47/2759/CD:2022); Text in German and English
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34-1: Leistungszyklusprüfung für Leistungshalbleitermodule (IEC 47/2759/CD:2022); Text Deutsch und Englisch
Format
Availability
Price and currency
Německy Hardcopy
In stock
108.39 €
Německy PDF
Immediate download
Printable
108.39 €
Anglicky Hardcopy
In stock
108.39 €
Anglicky PDF
Immediate download
Printable
108.39 €
| Status: | Návrh normy |
| Datum vydání: | 2024-08 |
| Označení: | DIN EN IEC 60749-34-1 |
| Název produktu: | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (IEC 47/2759/CD:2022); Text in German and English |
| Počet stran: | 37 |
DESCRIPTION