PRICES include / exclude VAT
sklademVydáno: 2006-07-18
IEC 62373:2006
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Essai de stabilité de température en polarisation pour transistors à effet de champ métal-oxyde-semiconducteur (MOSFET)
Format
Availability
Price and currency
Anglicky/Francouzsky Hardcopy
skladem
92.76 €
Anglicky/Francouzsky PDF
Immediate download
92.76 €
| Označení normy: | IEC 62373:2006 |
| Vydáno: | 2006-07-18 |
| Edice: | 1 |
| ICS: | 31.080.30 |
| Počet stran (Anglicky/Francouzsky): | 27 |
| ISBN (Anglicky/Francouzsky): | 2831887143 |
DESCRIPTION
IEC 62373:2006
Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)