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>UNE EN IEC 60749-24:2026 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased hast (Endorsed by Asociación Española de Normalización in February of 2026.)
sklademVydáno: 2026-02-01
UNE EN IEC 60749-24:2026 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased hast (Endorsed by Asociación Española de Normalización in February of 2026.)

UNE EN IEC 60749-24:2026

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased hast (Endorsed by Asociación Española de Normalización in February of 2026.)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia a la humedad acelerada. HAST no polarizado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2026.)

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Označení normy:UNE EN IEC 60749-24:2026
Počet stran:18
Vydáno:2026-02-01
Status:Norma
DESCRIPTION

This standard UNE EN IEC 60749-24:2026 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased hast (Endorsed by Asociación Española de Normalización in February of 2026.) is classified in these ICS categories:

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