UNE EN IEC 60749-7:2026

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (Endorsed by Asociación Española de Normalización in February of 2026.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2026.)