Menu
0
Total price
0 €
PRICES include / exclude VAT
Homepage>ČSN EN 60749-28 - Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 28: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model nabité součástky (CDM) - úroveň součástky
Vydáno: 01.12.2017
ČSN EN 60749-28 - Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 28: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model nabité součástky (CDM) - úroveň součástky

ČSN EN 60749-28

Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 28: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model nabité součástky (CDM) - úroveň součástky

Format
Availability
Price and currency
Anglicky Hardcopy
In stock
19.80 €
Buy including changes
Souběžně s touto normou platí ČSN EN IEC 60749-28 ed. 2 (35 8799) z listopadu 2022, která tuto normu zcela nahradí od 2025-04-05.
Označení normy:ČSN EN 60749-28
Třídící znak:358799
Počet stran:56
Vydáno:01.12.2017
Harmonizace:Norma není harmonizována
Katalogové číslo:503887
DESCRIPTION

ČSN EN 60749-28

Tato norma stanoví postup pro zkoušení, vyhodnocování a klasifikaci součástek a mikroobvodů podle jejich náchylnosti (citlivosti) na poškození nebo degradaci vystavením definovanému indukovanému poli elektrostatického výboje (ESD) modelu nabité součástky (CDM). Všechny zapouzdřené polovodičové součástky, tenkovrstvé obvody, součástky s povrchovou akustickou vlnou (SAW), optoelektronické součástky, hybridní integrované obvody (HIC) a vícečipové moduly (MCM) obsahující některé z těchto součástek, budou hodnoceny podle tohoto dokumentu. K provedení zkoušek jsou součástky sestaveny do bloku, který je podobný očekávanému konečnému použití. Tento dokument CDM se nevztahuje na model vybíjení pomocí paticového zkušebního zařízení. Tento dokument popisuje metodu indukce polem (FI). Jiná metoda (metoda přímého kontaktu (DC)) je popsána v příloze I. Účelem tohoto dokumentu je stanovit zkušební metodu, která bude opakovaně vyvolávat poruchy CDM a poskytovat spolehlivé, opakovatelné výsledky zkoušek ESD CDM z jednotlivých zkušebních zařízení bez ohledu na typ součástky. Opakované údaje budou umožňovat přesné klasifikace a srovnání úrovní citlivosti ESD CDM.