ČSN EN 60749-34

Tato zkušební metoda se používá k určení odolnosti polovodičové součástky proti tepelnému a mechanickému namáhání následkem cyklického opakování ztráty energie vnitřního polovodičového čipu a vnitřních konektorů. To se stává když předpětí o nízkém napětí v propustném směru (zatěžovací proud) jsou periodicky připojována a odpojována, což způsobuje rychlé změny teploty. Zkouška výkonovými cykly je určena k simulaci typických aplikací ve výkonové elektronice a doplňuje se vzájemně se zkouškou životnosti při zvýšené teplotě (viz IEC 60749-23). Vystavení této zkoušce nemusí vyvolat stejné mechanizmy poruch jako vystavení teplotním cyklům vzduch-vzduch, nebo rychlým změnám teploty při použití metody dvou lázní. Tato zkouška způsobuje opotřebení součástky a považuje se za destruktivní. POZNÁMKA - Není účelem této specifikace uvádět modely předpovědi pro hodnocení životnosti.