ČSN EN 60835-2-8

Tento oddíl IEC 835-2-8 se zabývá metodami měření adaptivních ekvalizerů používaných v mikrovlnných radioreléových systémech. Tato měření jsou určena ke zjištění vlastností ekvalizeru systému za přítomnosti selektivního úniku, ale mohou se také provádět na systémech bez adaptivních ekvalizerů. Aby bylo možno vzít v úvahu vlastnosti systému, které jsou obzvláště ovlivňovány použitím ekvalizerů pracujících v kmitočtové a/nebo časové oblasti, jsou výsledky měření systému uváděny takzvanými příznaky. Doplňková měření poskytují další možnosti přesného popisu činnosti systému.