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IEC 60749-23:2004/AMD1:2011
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23: Durée de vie en fonctionnement à haute température
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| Označení normy: | IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 |
| Vydáno: | 2011-01-27 |
| Edice: | 1 |
| ICS: | 31.080.01 |
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