PRICES include / exclude VAT
sklademVydáno: 2011-01-19
UNE EN 60749-19:2003/A1:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia de la pastilla al cizallamiento.
Format
Availability
Price and currency
Anglicky PDF
Immediate download
40.39 €
Anglicky Hardcopy
In stock
40.39 €
Španělsky PDF
Immediate download
33.66 €
Španělsky Hardcopy
In stock
33.66 €
| Označení normy: | UNE EN 60749-19:2003/A1:2011 |
| Počet stran: | 12 |
| Vydáno: | 2011-01-19 |
| Status: | Změna |
| Počet stran (Anglicky): | 12 |
| Počet stran (Španělsky): | 8 |
DESCRIPTION
This standard UNE EN 60749-19:2003/A1:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
Categories: