PRICES include / exclude VAT
sklademVydáno: 2011-01-19
UNE EN 60749-19:2003/A1:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia de la pastilla al cizallamiento.
Format
Availability
Price and currency
Anglicky PDF
Immediate download
Printable
38.40 €
Anglicky Hardcopy
In stock
38.40 €
Španělsky PDF
Immediate download
Printable
38.40 €
Španělsky Hardcopy
In stock
38.40 €
| Označení normy: | UNE EN 60749-19:2003/A1:2011 |
| Počet stran: | 12 |
| Vydáno: | 2011-01-19 |
| Status: | Změna |
| Počet stran (Španělsky): | 8 |
DESCRIPTION
UNE EN 60749-19:2003/A1:2011
Categories: