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>UNE EN 60749-4:2017 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2017.)
sklademVydáno: 2017-07-01
UNE EN 60749-4:2017 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2017.)

UNE EN 60749-4:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2017.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 4: Ensayo continuo fuertemente acelerado de esfuerzo de calor húmedo (HAST). (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

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Označení normy:UNE EN 60749-4:2017
Počet stran:19
Vydáno:2017-07-01
Status:Norma
DESCRIPTION

UNE EN 60749-4:2017

This part of IEC 60749 provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.

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