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Main page>UNE EN 60749-43:2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2017.)
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sklademVydáno: 2017-10-01
UNE EN 60749-43:2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2017.)

UNE EN 60749-43:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2017.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 43: Directrices para los planes de cualificación de fiabilidad de circuitos integrados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2017.)

CURRENCY
95.28 €
Označení normy:UNE EN 60749-43:2017
Počet stran:46
Vydáno:2017-10-01
Status:Norma
DESCRIPTION

This standard UNE EN 60749-43:2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2017.) is classified in these ICS categories:

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