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UNE EN 62415:2010
Semiconductor devices - Constant current electromigration test (Endorsed by AENOR in September of 2010.)
Dispositivos de semiconductores. Ensayo de electromigración de intensidad constante. (Ratificada por AENOR en septiembre de 2010.)
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| Označení normy: | UNE EN 62415:2010 |
| Počet stran: | 14 |
| Vydáno: | 2010-09-01 |
| Status: | Norma |
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UNE EN 62415:2010
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