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Main page>DIN EN 60749-41 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Zuverlässigkeitsprüfverfahren für nichtflüchtige Speicher-Bauelemente (IEC 47/2325/CD:2016)
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comming soonDatum vydání: 2017-04
DIN EN 60749-41 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Zuverlässigkeitsprüfverfahren für nichtflüchtige Speicher-Bauelemente (IEC 47/2325/CD:2016)

DIN EN 60749-41

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Reliability testing methods of non-volatile memory devices (IEC 47/2325/CD:2016)

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Zuverlässigkeitsprüfverfahren für nichtflüchtige Speicher-Bauelemente (IEC 47/2325/CD:2016)

CURRENCY
105.7 €
Status:Návrh normy
Datum vydání:2017-04
Označení:DIN EN 60749-41
Název produktu:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Reliability testing methods of non-volatile memory devices (IEC 47/2325/CD:2016)
Počet stran:35
DESCRIPTION

DIN EN 60749-41

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