Cena s DPH / bez DPH
Tato norma již není platná, pro více informací nás kontaktujte.
připravujemeDatum vydání: 2017-04
DIN EN 60749-41
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Reliability testing methods of non-volatile memory devices (IEC 47/2325/CD:2016)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Zuverlässigkeitsprüfverfahren für nichtflüchtige Speicher-Bauelemente (IEC 47/2325/CD:2016)
Měna
| Status: | Návrh normy |
| Datum vydání: | 2017-04 |
| Označení: | DIN EN 60749-41 |
| Název produktu: | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Reliability testing methods of non-volatile memory devices (IEC 47/2325/CD:2016) |
| Počet stran: | 35 |
Popis