Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>26/30551649 DC BS EN IEC 60749-29 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 29: Latch-up test
sklademVydáno: 2026-01-30
26/30551649 DC BS EN IEC 60749-29 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 29: Latch-up test

26/30551649 DC

BS EN IEC 60749-29 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 29: Latch-up test

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
Označení normy:26/30551649 DC
Počet stran:75
Vydáno:2026-01-30
Status:Draft for Comment
Popis

26/30551649 DC


This standard 26/30551649 DC BS EN IEC 60749-29 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods is classified in these ICS categories:
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general

Tisk