Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2008-10-31
BS EN 62374:2007
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6160 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6160 Kč
| Označení normy: | BS EN 62374:2007 |
| Počet stran: | 24 |
| Vydáno: | 2008-10-31 |
| ISBN: | 978 0 580 54048 6 |
| Status: | Standard |
Popis
BS EN 62374:2007
This standard BS EN 62374:2007 Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films is classified in these ICS categories:
- 31.080.99 Other semiconductor devices
- 31.080.01 Semiconductor devices in general