Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>BS EN IEC 60749-21:2026 - TC Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Solderability
sklademVydáno: 2026-02-12
BS EN IEC 60749-21:2026 - TC Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Solderability

BS EN IEC 60749-21:2026 - TC

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Solderability

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9454 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9454 Kč
Označení normy:BS EN IEC 60749-21:2026 - TC
Počet stran:64
Vydáno:2026-02-12
ISBN:978 0 539 41126 3
Status:Tracked Changes
Popis

BS EN IEC 60749-21:2026 - TC


This standard BS EN IEC 60749-21:2026 - TC Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods is classified in these ICS categories:
  • 31.080.01 Semiconductor devices in general
  • 29.140.99 Other standards related to lamps

Tisk