Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2026-01-21
BS EN IEC 60749-7:2026
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4814 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4814 Kč
| Označení normy: | BS EN IEC 60749-7:2026 |
| Počet stran: | 18 |
| Vydáno: | 2026-01-21 |
| ISBN: | 978 0 539 32737 3 |
| Status: | Standard |
Popis
BS EN IEC 60749-7:2026
This standard BS EN IEC 60749-7:2026 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods is classified in these ICS categories:
- 31.080.01 Semiconductor devices in general