Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2025-07-08
BS ISO 16206:2025
Phase quantitative analysis of residual quartz in silica bricks. X-ray diffraction method
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4266 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4266 Kč
| Označení normy: | BS ISO 16206:2025 |
| Počet stran: | 16 |
| Vydáno: | 2025-07-08 |
| ISBN: | 978 0 539 22562 4 |
| Status: | Standard |
Popis
BS ISO 16206:2025
This standard BS ISO 16206:2025 Phase quantitative analysis of residual quartz in silica bricks. X-ray diffraction method is classified in these ICS categories:
- 81.080 Refractories