ČSN EN IEC 60749-34-1

Tato norma popisuje zkušební metodu, která se používá k určení schopnosti výkonových polovodičových modulů odolávat tepelnému a mechanickému namáhání způsobenému cyklickým namáháním výkonovou ztrátou vnitřních polovodičů a vnitřních konektorů. Je založena na IEC 60749 34, ale byla vytvořena speciálně pro výkonové polovodičové moduly, včetně tranzistorů IGBT, MOSFET, diod a tyristorů. Požaduje-li zákazník individuální použití nebo specifické směrnice pro danou aplikaci (například směrnice ECPE AQG 324), mohou být podrobnosti zkušební metody založeny na těchto požadavcích, liší-li se od obsahu tohoto dokumentu. Tato zkouška způsobuje únavu materiálu a je považována za destruktivní.