Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>ČSN EN IEC 62276 ed. 4 - Monokrystalické desky pro součástky s povrchovou akustickou vlnou (PAV) - Specifikace a měřicí metody
Vydáno: 01.10.2025
ČSN EN IEC 62276 ed. 4 - Monokrystalické desky pro součástky s povrchovou akustickou vlnou (PAV) - Specifikace a měřicí metody

ČSN EN IEC 62276 ed. 4

Monokrystalické desky pro součástky s povrchovou akustickou vlnou (PAV) - Specifikace a měřicí metody

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky Tisk
Skladem
495 Kč
S účinností od 2028-04-30 se nahrazuje ČSN EN 62276 ed. 3 (35 8417) z června 2017, která do uvedeného data platí souběžně s touto normou.
Označení normy:ČSN EN IEC 62276 ed. 4
Třídící znak:358417
Počet stran:52
Vydáno:01.10.2025
Harmonizace:Norma není harmonizována
Katalogové číslo:521961
Popis

ČSN EN IEC 62276 ed. 4

This document applies to the manufacture of synthetic quartz, lithium niobate (LN), lithium tantalate (LT), lithium tetraborate (LBO), and lanthanum gallium silicate (LGS) single crystal wafers intended for use as substrates in the manufacture of surface acoustic wave (SAW) filters and resonators.
Tisk