Cena s DPH / bez DPH
sklademDatum vydání: 1999-11
DIN 50455-2
Characterization of photoresists used in semiconductor technology - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 2: Bestimmung der Lichtempfindlichkeit von Positiv-Fotolacken
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Německy Tisk
Skladem
979 Kč
Německy PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
979 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1220 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1220 Kč
| Status: | Norma |
| Datum vydání: | 1999-11 |
| Označení: | DIN 50455-2 |
| Název produktu: | Characterization of photoresists used in semiconductor technology - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists |
| Počet stran: | 5 |
Popis