Cena s DPH / bez DPH
sklademDatum vydání: 2015-12
DIN EN 62047-16
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 16: Messverfahren zur Ermittlung der Eigenspannungen in Dünnschichten von MEMS-Bauteilen - Substratkrümmungs- und Biegebalken-Verfahren (IEC 62047-16:2015); Deutsche Fassung EN 62047-16:2015
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Německy Tisk
Skladem
2104 Kč
Německy PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
2104 Kč
| Status: | Norma |
| Datum vydání: | 2015-12 |
| Jazyk: | Německy |
| Označení: | DIN EN 62047-16 |
| Název produktu: | Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 16: Messverfahren zur Ermittlung der Eigenspannungen in Dünnschichten von MEMS-Bauteilen - Substratkrümmungs- und Biegebalken-Verfahren (IEC 62047-16:2015); Deutsche Fassung EN 62047-16:2015 |
| Počet stran: | 13 |
Popis