Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve čtvrtek 18. 12. 2025.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 05. 01. 2026.

 

Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAInfobarNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>DIN EN 62047-18 Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 18: Biegeprüfverfahren für Dünnschichtwerkstoffe (IEC 62047-18:2013); Deutsche Fassung EN 62047-18:2013
sklademDatum vydání: 2014-04
DIN EN 62047-18 Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 18: Biegeprüfverfahren für Dünnschichtwerkstoffe (IEC 62047-18:2013); Deutsche Fassung EN 62047-18:2013

DIN EN 62047-18

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 18: Biegeprüfverfahren für Dünnschichtwerkstoffe (IEC 62047-18:2013); Deutsche Fassung EN 62047-18:2013

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Německy Tisk
Skladem
2224 Kč
Německy PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
2224 Kč
Status:Norma
Datum vydání:2014-04
Jazyk:Německy
Označení:DIN EN 62047-18
Název produktu:Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 18: Biegeprüfverfahren für Dünnschichtwerkstoffe (IEC 62047-18:2013); Deutsche Fassung EN 62047-18:2013
Počet stran:15
Popis

DIN EN 62047-18

Tisk