Cena s DPH / bez DPH
sklademDatum vydání: 2025-10
DIN EN IEC 60749-23
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 47/2881/CDV:2024); German and English version prEN IEC 60749-23:2024
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 47/2881/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-23:2024
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Německy Tisk
Skladem
1993 Kč
Německy PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1993 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1993 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1993 Kč
| Status: | Návrh normy |
| Datum vydání: | 2025-10 |
| Označení: | DIN EN IEC 60749-23 |
| Název produktu: | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 47/2881/CDV:2024); German and English version prEN IEC 60749-23:2024 |
| Počet stran: | 18 |
Popis