Cena s DPH / bez DPH
Technické normy - ČSN normy
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
214194 results
První stranaPředchozí strana123...1671916720167211672216723...178481784917850DalšíPoslední stranaIEC 62715-6-1:2018
Flexible display devices - Part 6-1: Mechanical test methods - Deformation tests
Flexible display devices - Part 6-1: Mechanical test methods - Deformation tests
Vydáno: 2018-04-20
Anglicky Tisk
skladem
4433 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
4433 Kč
IEC 60749-32:2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Vydáno: 2002-08-30
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
572 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
572 Kč
IEC 60761-5:2002
Equipment for continuous monitoring of radioactivity in gaseous effluents - Part 5: Specific requirements for tritium monitors
Equipment for continuous monitoring of radioactivity in gaseous effluents - Part 5: Specific requirements for tritium monitors
Vydáno: 2002-01-16
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
3289 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
3289 Kč
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
1430 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
1430 Kč
IEC 60754-2:2011
Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 2: Determination of acidity (by pH measurement) and conductivity
Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 2: Determination of acidity (by pH measurement) and conductivity
Vydáno: 2011-11-17
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
3289 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
3289 Kč
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
3289 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
3289 Kč
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
1144 Kč
IEC 60749-29:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
Vydáno: 2011-04-07
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
4433 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
4433 Kč
IEC 60749-36:2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
Vydáno: 2003-02-13
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
286 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
286 Kč
IEC 60749-8:2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Vydáno: 2002-08-30
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
2288 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
2288 Kč
IEC 60759:1983/AMD1:1991
Amendment 1 - Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
Amendment 1 - Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
Vydáno: 1991-11-15
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
286 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
286 Kč
IEC 60749-21:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability
Vydáno: 2011-04-07
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
4433 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
4433 Kč