Cena s DPH / bez DPH
Technické normy - ČSN normy
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
215813 results
První stranaPředchozí strana123...1707817079170801708117082...179831798417985DalšíPoslední stranaIEC 60761-5:2002
Equipment for continuous monitoring of radioactivity in gaseous effluents - Part 5: Specific requirements for tritium monitors
Equipment for continuous monitoring of radioactivity in gaseous effluents - Part 5: Specific requirements for tritium monitors
Vydáno: 2002-01-16
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
3289 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
3289 Kč
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
1430 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1430 Kč
IEC 60754-2:2011
Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 2: Determination of acidity (by pH measurement) and conductivity
Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 2: Determination of acidity (by pH measurement) and conductivity
Vydáno: 2011-11-17
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
3289 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
3289 Kč
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
3289 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
3289 Kč
Anglicky Tisk
skladem
3289 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
3289 Kč
IEC 60749-29:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
Vydáno: 2011-04-07
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
4576 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
4576 Kč
IEC 60749-36:2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
Vydáno: 2003-02-13
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
286 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
286 Kč
IEC 60749-8:2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Vydáno: 2002-08-30
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
2288 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
2288 Kč
IEC 60759:1983/AMD1:1991
Amendment 1 - Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
Amendment 1 - Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
Vydáno: 1991-11-15
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
286 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
286 Kč
IEC 60749-42:2014
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage
Vydáno: 2014-08-12
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
572 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
572 Kč
IEC TR 60778:1984
Brush-holders for slip-rings, Group R - type RA
Brush-holders for slip-rings, Group R - type RA
Vydáno: 1984-01-01
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1144 Kč
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
7436 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
7436 Kč
IEC TR 60782:1984
Measurements of ultrasonic magnetostrictive transducers
Measurements of ultrasonic magnetostrictive transducers
Vydáno: 1984-01-01
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
6006 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
6006 Kč