Cena s DPH / bez DPH
Technické normy - ČSN normy
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
216080 results
První stranaPředchozí strana123...1710417105171061710717108...180051800618007DalšíPoslední stranaIEC 61747-40-1:2019 RLV
Liquid crystal display devices - Part 40-1: Mechanical testing of display cover glass for mobile devices - Guidelines
Liquid crystal display devices - Part 40-1: Mechanical testing of display cover glass for mobile devices - Guidelines
Vydáno: 2019-04-17
Anglicky Tisk
skladem
1945 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1945 Kč
IEC TR 62544:2011+AMD1:2016 CSV
High-voltage direct current (HVDC) systems - Application of activefilters
High-voltage direct current (HVDC) systems - Application of activefilters
Vydáno: 2016-04-13
Anglicky Tisk
skladem
14729 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
14729 Kč
IEC 61195:1999+AMD1:2012 CSV
Double-capped fluorescent lamps - Safety specifications
Double-capped fluorescent lamps - Safety specifications
Vydáno: 2012-10-14
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
8580 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
8580 Kč
IEC 60838-1:2016+AMD1:2017+AMD2:2020 CSV
Miscellaneous lampholders - Part 1: General requirements and tests
Miscellaneous lampholders - Part 1: General requirements and tests
Vydáno: 2020-02-26
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
14729 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
14729 Kč
IEC 60050-192:2015
International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 192: Dependability
International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 192: Dependability
Vydáno: 2015-02-26
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
11583 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
11583 Kč
Anglicky Tisk
skladem
2288 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
2288 Kč
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
2288 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
2288 Kč
IEC 62047-17:2015
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films
Vydáno: 2015-03-05
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
6006 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
6006 Kč
IEC 60050-705:1995/AMD1:2015
Amendment 1 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 705: Radio wave propagation
Amendment 1 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 705: Radio wave propagation
Vydáno: 2015-02-25
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
286 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
286 Kč
IEC 60068-2-67:1995+AMD1:2019 CSV
Environmental testing - Part 2-67: Tests - Test Cy: Damp heat, steady state, accelerated test primarily intended for components
Environmental testing - Part 2-67: Tests - Test Cy: Damp heat, steady state, accelerated test primarily intended for components
Vydáno: 2019-07-02
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
2431 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
2431 Kč
IEC 60929:2011+AMD1:2015 CSV
AC and/or DC-supplied electronic control gear for tubularfluorescent lamps - Performance requirements
AC and/or DC-supplied electronic control gear for tubularfluorescent lamps - Performance requirements
Vydáno: 2015-10-22
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
27456 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
27456 Kč
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
6006 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
6006 Kč
IEC 61671-2:2016
Standard for automatic test markup language (ATML) instrument description
Standard for automatic test markup language (ATML) instrument description
Vydáno: 2016-04-08
Anglicky Tisk
skladem
8437 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
8437 Kč