Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2010-10-07
IEC 60444-11:2010
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency f<sub>L</sub> and the effective load capacitance C<sub>Leff</sub> using automatic network analyzer techniques and error correction
Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 11: Méthode normalisée pour la détermination de la fréquence de_résonance à la charge f<sub>L</sub> et de la capacité de charge efficace C<sub>Leff</sub> utilisant des analyseurs automatiques de réseaux et correction des erreurs
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
2288 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
2288 Kč
| Označení normy: | IEC 60444-11:2010 |
| Vydáno: | 2010-10-07 |
| Edice: | 1 |
| ICS: | 31.140 |
| Počet stran (Anglicky/Francouzsky): | 28 |
| ISBN (Anglicky/Francouzsky): | 9782889122103 |
Popis
IEC 60444-11:2010
IEC 60444-11:2010 defines the standard method of measuring load resonance frequency fL at the nominal value of CL, and the determination of the effective load capacitance CLeff at the nominal frequency for crystals with the figure of merit M > 4.