Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2003-08-12
IEC 60749-1:2002/COR1:2003
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Corrigendum 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 1: Généralités
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
0 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
0 Kč
| Označení normy: | IEC 60749-1:2002/COR1:2003 |
| Vydáno: | 2003-08-12 |
| Edice: | 1 |
| ICS: | 31.080.01 |
Popis
IEC 60749-1:2002/COR1:2003
Modification of the validity date: now put at 2007.