Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 1983-01-01
IEC 60759:1983
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
Méthodes d'essais normalisés des spectromètres d'énergie X à semicteur
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
8008 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
8008 Kč
| Označení normy: | IEC 60759:1983 |
| Vydáno: | 1983-01-01 |
| Edice: | 1 |
| ICS: | 17.240 |
Popis
IEC 60759:1983
Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer.