Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2010-09-29
IEC 62374-1:2010
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 1: Essai de rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermétalliques
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
2288 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
2288 Kč
| Označení normy: | IEC 62374-1:2010 |
| Vydáno: | 2010-09-29 |
| Edice: | 1 |
| ICS: | 31.080.99 |
| Počet stran (Anglicky/Francouzsky): | 32 |
| ISBN (Anglicky/Francouzsky): | 9782889121786 |
Popis
IEC 62374-1:2010
IEC 62374-1:2010 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices.