Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2010-05-19
IEC 62415:2010
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
Dispositifs à semiconducteurs - Essai d'électromigration en courant constant
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1144 Kč
View table of Contents
| Označení normy: | IEC 62415:2010 |
| Vydáno: | 2010-05-19 |
| Edice: | 1 |
| ICS: | 31.080.01 |
| Počet stran (Anglicky/Francouzsky): | 22 |
| ISBN (Anglicky/Francouzsky): | 9782889109494 |
Popis
IEC 62415:2010
IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.