Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2024
ISO 24173:2024
ISO 24173:2024-Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
5400 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
5400 Kč
| Označení normy: | ISO 24173:2024 |
| Počet stran: | 40 |
| Vydání: | 2 |
| Vydáno: | 2024 |
| Jazyk: | Anglicky |
| Počet stran (Anglicky): | 40 |
Popis
ISO 24173:2024
This document gives guidance on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.