Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.30 Tranzistory

31.080.30 Tranzistory

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
20 results
1Poslední strana
BS EN 120004:1993
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Ambient rated photocouplers with phototransistor output
Vydáno: 1988-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
6380 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6380 Kč
BS IEC 60747-8-4:2004
Discrete semiconductor devices Metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) for power switching applications
Vydáno: 2004-11-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
8874 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
8874 Kč
BS EN 120003:1993
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Phototransistors, photodarlington transistors, phototransistor arrays
Vydáno: 1986-11-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
17/30366375 DC
BS IEC 62373-1. Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFET) Part 1. Fast BTI Test method
Vydáno: 2017-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS IEC 60747-7:2010+A1:2019
Semiconductor devices. Discrete devices Bipolar transistors
Vydáno: 2019-10-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9570 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9570 Kč
BS QC 750106:1993
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Field-effect transistors for case-rated power amplifier applications
Vydáno: 1993-07-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS IEC 62899-503-1:2020
Printed electronics Quality assessment. Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
Vydáno: 2020-09-25
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS IEC 62899-503-3:2021
Printed electronics Quality assessment. Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor. Transfer length method
Vydáno: 2021-09-08
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
BS IEC 63275-1:2022
Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors Test method for bias temperature instability
Vydáno: 2022-10-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
4582 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4582 Kč
18/30381548 DC
BS EN 62373-1. Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFET) Part 1. Fast BTI Test method
Vydáno: 2018-08-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
580 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
580 Kč
BS EN 62416:2010
Semiconductor devices. Hot carrier test on MOS transistors
Vydáno: 2010-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
3886 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3886 Kč
BS IEC 60747-9:2019
Semiconductor devices Discrete devices. Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)
Vydáno: 2019-11-22
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
9570 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9570 Kč
20 Výsledky
1Poslední strana