Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve čtvrtek 18. 12. 2025.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 05. 01. 2026.

 

Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAInfobarNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>Normy BSI>31 ELEKTRONIKA>31.080 Polovodičové součástky>31.080.30 Tranzistory

31.080.30 Tranzistory

Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
22 results
1Poslední strana
17/30366375 DC
BS IEC 62373-1. Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFET) Part 1. Fast BTI Test method
Vydáno: 2017-11-30
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
BS IEC 60747-7:2010+A1:2019
Semiconductor devices. Discrete devices Bipolar transistors
Vydáno: 2019-10-23
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9744 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9744 Kč
BS IEC 60747-8-4:2004
Discrete semiconductor devices Metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) for power switching applications
Vydáno: 2004-11-09
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
9016 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
9016 Kč
BS EN 120003:1993
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Phototransistors, photodarlington transistors, phototransistor arrays
Vydáno: 1986-11-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS EN 120004:1993
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Ambient rated photocouplers with phototransistor output
Vydáno: 1988-05-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
6496 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
6496 Kč
BS IEC 62899-503-3:2021
Printed electronics Quality assessment. Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor. Transfer length method
Vydáno: 2021-09-08
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS QC 750106:1993
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Field-effect transistors for case-rated power amplifier applications
Vydáno: 1993-07-15
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS IEC 62899-503-1:2020
Printed electronics Quality assessment. Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
Vydáno: 2020-09-25
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS IEC 63275-1:2022
Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors Test method for bias temperature instability
Vydáno: 2022-10-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
4648 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
4648 Kč
BS EN 62416:2010
Semiconductor devices. Hot carrier test on MOS transistors
Vydáno: 2010-07-31
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
3976 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
3976 Kč
18/30381548 DC
BS EN 62373-1. Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFET) Part 1. Fast BTI Test method
Vydáno: 2018-08-03
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
25/30531418 DC
BS IEC 63673 Guidelines for Gate Charge (QG) test method for SIC MOSFET
Vydáno: 2025-09-05
Anglicky Zabezpečené PDF
K okamžitému stažení
Netisknutelné
560 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
560 Kč
22 Výsledky
1Poslední strana