Cena s DPH / bez DPH
Normy IEC
IEC standardy v elektronickém formátu PDF
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
2288 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
2288 Kč
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
286 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
286 Kč
Anglicky Tisk
skladem
7150 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
7150 Kč
IEC 60565-2:2019
Underwater acoustics - Hydrophones - Calibration of hydrophones - Part 2: Procedures for low frequency pressure calibration
Underwater acoustics - Hydrophones - Calibration of hydrophones - Part 2: Procedures for low frequency pressure calibration
Vydáno: 2019-09-19
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
9152 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
9152 Kč
Anglicky Tisk
skladem
286 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
286 Kč
IEC 62264-3:2016
Enterprise-control system integration - Part 3: Activity models of manufacturing operations management
Enterprise-control system integration - Part 3: Activity models of manufacturing operations management
Vydáno: 2016-12-16
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
10439 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
10439 Kč
IEC 60793-1-61:2017
Optical fibres - Part 1-61: Measurement methods and test procedures - Polarization crosstalk
Optical fibres - Part 1-61: Measurement methods and test procedures - Polarization crosstalk
Vydáno: 2017-02-07
Anglicky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1144 Kč
IEC 61315:2019
Calibration of fibre-optic power meters
Calibration of fibre-optic power meters
Vydáno: 2019-03-29
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
8008 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
8008 Kč
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
10439 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
10439 Kč
IEC 60749-23:2004/AMD1:2011
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Vydáno: 2011-01-27
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
286 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
286 Kč
IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Vydáno: 2011-03-30
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
2431 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
2431 Kč
IEC 60749-34:2010
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
Vydáno: 2010-10-28
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
1144 Kč
13946 Výsledky
První stranaPředchozí strana123...693694695696697...116111621163DalšíPoslední strana