Cena s DPH / bez DPH
Normy IEC
IEC standardy v elektronickém formátu PDF
Měna
Cena s DPH / bez DPH
Cena s DPH
IEC 62264-3:2016
Enterprise-control system integration - Part 3: Activity models of manufacturing operations management
Enterprise-control system integration - Part 3: Activity models of manufacturing operations management
Vydáno: 2016-12-16
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
10439 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
10439 Kč
IEC 60793-1-61:2017
Optical fibres - Part 1-61: Measurement methods and test procedures - Polarization crosstalk
Optical fibres - Part 1-61: Measurement methods and test procedures - Polarization crosstalk
Vydáno: 2017-02-07
Anglicky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1144 Kč
IEC 61315:2019
Calibration of fibre-optic power meters
Calibration of fibre-optic power meters
Vydáno: 2019-03-29
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
8008 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
8008 Kč
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
10439 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
10439 Kč
IEC 60749-23:2004/AMD1:2011
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Vydáno: 2011-01-27
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
286 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
286 Kč
IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Vydáno: 2011-03-30
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
2431 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
2431 Kč
IEC 60749-34:2010
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
Vydáno: 2010-10-28
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
1144 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
1144 Kč
IEC 60749-27:2006
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Vydáno: 2006-07-18
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
2288 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
2288 Kč
IEC 60749-40:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
Vydáno: 2011-07-13
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
4433 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
4433 Kč
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
4433 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
4433 Kč
IEC 60793-1-20:2014
Optical fibres - Part 1-20: Measurement methods and test procedures - Fibre geometry
Optical fibres - Part 1-20: Measurement methods and test procedures - Fibre geometry
Vydáno: 2014-10-10
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
8008 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
8008 Kč
IEC 60767:1983
Helical-scan video-tape cassette system using 12.65 mm (0.5 in) magnetic tape on type beta-format
Helical-scan video-tape cassette system using 12.65 mm (0.5 in) magnetic tape on type beta-format
Vydáno: 1983-01-01
Anglicky/Francouzsky Tisk
skladem
7150 Kč
Anglicky/Francouzsky PDF
K okamžitému stažení
7150 Kč
13930 Výsledky
První stranaPředchozí strana123...802803804805806...115911601161DalšíPoslední strana