Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2004-05-28
UNE EN 60749-1:2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 1: Generalidades.
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1752 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1752 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1460 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1460 Kč
| Označení normy: | UNE EN 60749-1:2004 |
| Počet stran: | 24 |
| Vydáno: | 2004-05-28 |
| Status: | Norma |
| Počet stran (Španělsky): | 12 |
Popis
This standard UNE EN 60749-1:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
: