Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2003-05-30
UNE EN 60749-11:2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method.
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 11: Variaciones rápidas de temperatura. Método de los dos baños.
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1647 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1647 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1373 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1373 Kč
| Označení normy: | UNE EN 60749-11:2003 |
| Počet stran: | 21 |
| Vydáno: | 2003-05-30 |
| Status: | Norma |
| Počet stran (Španělsky): | 10 |
Popis
This standard UNE EN 60749-11:2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method. is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
: