Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2004-06-11
UNE EN 60749-14:2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 14: Robustez de los terminales (integridad de los conectores).
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
2131 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
2131 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
1776 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1776 Kč
| Označení normy: | UNE EN 60749-14:2004 |
| Počet stran: | 35 |
| Vydáno: | 2004-06-11 |
| Status: | Norma |
Popis
This standard UNE EN 60749-14:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 14: Robustness of terminations (lead integrity) is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
: