Cena s DPH / bez DPH
sklademVydáno: 2004-06-11
UNE EN 60749-25:2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 25: Temperature cycling
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 25: Ciclos de temperatura.
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
2068 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
2068 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1723 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1723 Kč
| Označení normy: | UNE EN 60749-25:2004 |
| Počet stran: | 33 |
| Vydáno: | 2004-06-11 |
| Status: | Norma |
| Počet stran (Španělsky): | 16 |
Popis
This standard UNE EN 60749-25:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 25: Temperature cycling is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
: