Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-25:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 25: Temperature cycling
sklademVydáno: 2004-06-11
UNE EN 60749-25:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 25: Temperature cycling

UNE EN 60749-25:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 25: Temperature cycling

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 25: Ciclos de temperatura.

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
2096 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
2096 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
1746 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1746 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-25:2004
Počet stran:33
Vydáno:2004-06-11
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 60749-25:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 25: Temperature cycling is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk