Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDANovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-31:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
sklademVydáno: 2004-03-18
UNE EN 60749-31:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)

UNE EN 60749-31:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 31: Inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico (provocada internamente).

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
994 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
994 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
829 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
829 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-31:2004
Počet stran:16
Vydáno:2004-03-18
Status:Norma
Počet stran (Anglicky):16
Počet stran (Španělsky):8
Popis

This standard UNE EN 60749-31:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced) is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk