Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve čtvrtek 18. 12. 2025.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 05. 01. 2026.

 

Cena s DPH / bez DPH
>UNE EN 60749-34:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 34: Power cycling
sklademVydáno: 2011-07-20
UNE EN 60749-34:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 34: Power cycling

UNE EN 60749-34:2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 34: Power cycling

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 34: Ciclo de potencia.

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
2053 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
2053 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1711 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1711 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-34:2011
Počet stran:6
Vydáno:2011-07-20
Status:Norma
Počet stran (Španělsky):16
Popis

This standard UNE EN 60749-34:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 34: Power cycling is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
: