Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve čtvrtek 18. 12. 2025.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 05. 01. 2026.

 

Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAInfobarNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
>UNE EN 60749-44:2016 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (Endorsed by AENOR in December of 2016.)
sklademVydáno: 2016-12-01
UNE EN 60749-44:2016 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (Endorsed by AENOR in December of 2016.)

UNE EN 60749-44:2016

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (Endorsed by AENOR in December of 2016.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de ensayo por efecto de evento único (SEE) mediante haz de neutrones irradiados para dispositivos semiconductores. (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
Tisknutelné
1914 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1914 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-44:2016
Počet stran:28
Vydáno:2016-12-01
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 60749-44:2016 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (Endorsed by AENOR in December of 2016.) is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk