Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-8:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 8: Sealing
sklademVydáno: 2004-05-28
UNE EN 60749-8:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 8: Sealing

UNE EN 60749-8:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 8: Sealing

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 8: Estanquidad.

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
2202 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
2202 Kč
Španělsky PDF
K okamžitému stažení
1835 Kč
Španělsky Tisk
Skladem
1835 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-8:2004
Počet stran:41
Vydáno:2004-05-28
Status:Norma
Počet stran (Anglicky):41
Počet stran (Španělsky):18
Popis

This standard UNE EN 60749-8:2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 8: Sealing is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
: