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UNE EN IEC 60749-34-1:2025
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (Endorsed by Asociación Española de Normalización in September of 2025.)
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 34-1: Ensayo de ciclos de potencia para módulos semiconductores de potencia. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2025.)
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| Označení normy: | UNE EN IEC 60749-34-1:2025 |
| Počet stran: | 37 |
| Vydáno: | 2025-09-01 |
| Status: | Norma |
Popis
This standard UNE EN IEC 60749-34-1:2025 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (Endorsed by Asociación Española de Normalización in September of 2025.) is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
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